溫升測試中對于電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)都是很重要的。其中的電子產(chǎn)品測試溫度,不僅可以協(xié)助工程師驗證產(chǎn)品設計的可靠性以及合理性,還能更全面地評估產(chǎn)品整體性能。那么,怎么檢測電池的溫升?下面我們來(lái)看看廣州智品匯電子科技有限公司介紹。
一、溫升測試
為驗證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩定性等特性,通常會(huì )測試其重要元件(IC芯片、IGBT等)的溫升,將被測設備置于某一特定溫度(如室溫或某一特定溫度)下運行。
穩定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升,通過(guò)確定產(chǎn)品各部件的溫升是否符合標準規定的允許值,以驗證產(chǎn)品的可靠性與產(chǎn)品設計的合理性。
溫升的目的就是為了采集各測試點(diǎn)的溫度變化狀況:觀(guān)察溫度曲線(xiàn)變化是否合理,如溫升是否在允許范圍內;若有異常,則停止試驗,保存現有數據,查看并分析原因。如圖1為溫升記錄。
那么溫升該如何記錄并運算呢?
1、傳統測試方法
使用普通數采采集被測物工作溫度后,人工使用EXCEL做大量數據運算,被測物工作溫度-固定室溫值;但是傳統方法花費大量人工成本、測試結果不準確。
2、新型數采測試方法
通過(guò)Delta運算方法將輸入端(被測物工作溫度)與基準通道(測試環(huán)境溫度,如室溫)測量值的差值,作為該通道的測量值。在溫度測量中,以室溫為基準,便于測量與室溫之間的差值。如圖2。
二、測試環(huán)境搭建
如在室溫25℃環(huán)境下,做電源溫升測試,即在所有關(guān)鍵性元器件的表面,比如IGBT、電感等半導體器件或磁性器件,通常使用熱電偶(R、S、B、K、E、J、T、N型)布線(xiàn)。
熱電偶焊點(diǎn):把熱電偶探頭緊貼在被測位置,打上膠水;
熱電偶走線(xiàn):機器內部的電線(xiàn)要盡量整齊,用高溫膠帶捆住,走邊槽或電線(xiàn)槽;
熱電偶出線(xiàn):不得從進(jìn)出風(fēng)口或其它不安全處引出。
當有兩種不同的導體或半導體A和B組成一個(gè)回路,其兩端相互連接時(shí),只要兩結點(diǎn)處的溫度不同,一端溫度為T(mén),稱(chēng)為工作端或熱端,另一端溫度為T(mén)0,稱(chēng)為自由端(也稱(chēng)參考端)或冷端,回路中將產(chǎn)生一個(gè)電動(dòng)勢。
該電動(dòng)勢的方向和大小與導體的材料及兩接點(diǎn)的溫度有關(guān)。這種現象稱(chēng)為“熱電效應”,兩種導體組成的回路稱(chēng)為“熱電偶”,這兩種導體稱(chēng)為“熱電極”,產(chǎn)生的電動(dòng)勢則稱(chēng)為“熱電動(dòng)勢”。通過(guò)此模型確定溫升過(guò)程。
三、多級級聯(lián)的分布式采集
當測量場(chǎng)所比較分散時(shí),測量現場(chǎng)與數據記錄儀可分開(kāi)安裝,避免遠距離連接信號線(xiàn)。多臺級聯(lián),DM100數據采集記錄儀最多可擴展至200個(gè)采集通道,擴展性強,適合多通道數據采集記錄。如圖4為級聯(lián)方式。
四、數據的匯總運算
模擬信號采集模塊均采用32位ADC采樣,直流電壓精度高達0.05%,模塊間可進(jìn)行同步采樣,最快采樣周期100ms/10個(gè)點(diǎn)。
通道間隔離耐壓1000V AC,有效屏蔽通道間的干擾。內置數字濾波器可有效消除工頻及高頻噪聲干擾,適應現場(chǎng)環(huán)境的變化,穩定工作于工業(yè)環(huán)境,從而得到準確的原始運算數據。圖5為Web表格導出的數據。
5 Web數據
ZLG致遠電子DM100、DP100數據采集記錄儀是一種通用的數據采集設備,通過(guò)模塊化的設計構架。
為用戶(hù)提供多樣化的數據采集模塊,全面采集直流電壓、直流電流、數字量、溫度、濕度等多種傳感器信號數據,可實(shí)時(shí)操作并顯示多種測量結果。
用戶(hù)可對采集到的數據進(jìn)行自定義運算處理,并實(shí)現高可靠性的數據存儲記錄功能。DM100、DP100數據采集記錄儀從數據采集、測量運算到存儲記錄,為用戶(hù)提供一個(gè)方便可靠的數據采集儀器。
以上就是關(guān)于溫升測試的一些問(wèn)題解答,但是還有其他的問(wèn)題都是可以來(lái)咨詢(xún)我們廣州智品匯電子科技有限公司。